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11月11日周三
  1. Semiconductor Engineering49

    混合键合间距缩小至5μm以下,检测与量测面临极限挑战

    混合键合间距正从当前量产的4至9μm向5μm以下收缩,50nm颗粒和表面污染即可导致键合失效。CMP需将铜凹陷控制在几纳米并保持0.5nm RMS粗糙度,预键合检测须区分致命缺陷与无害形貌变化。键合后的埋藏缺陷检测仍是最大难题,红外、X射线和超声成像在分辨率、灵敏度与吞吐上各有局限。

  2. Semiconductor Engineering29

    通过测试的芯片为何仍需额外筛选?PDF Solutions、Teradyne、proteanTecs 谈边际器件的可靠性风险

    PDF Solutions、Teradyne、proteanTecs 等厂商指出,通过晶圆分选与终测的芯片仍可能因时序裕量偏薄、电阻漂移等边际行为在现场失效。器件级参数模型、跨插入数据和物理检测可标记可疑的"合格"芯片,但异常并不等于缺陷。只有当额外筛选能以低于所避免失效的成本暴露疑似弱点时,加测才划算。

11月8日周日
  1. Electronics Weekly28

    Emerson 推出支持 AI 加速自动化测试的 NI PXIe 仪器

    Emerson 发布 NI PXIe-4086 数字万用表及 PXIe-5160、PXIe-5162 示波器新版本,均属 NI PXI 平台,可搭配近期推出的 NI Nigel AI 方案使用。PXIe-5160 提供 2 或 4 通道、最高 2.5 GS/s 采样率、500 MHz 带宽,英国起售价 £14,700。产品面向半导体、交通与航空航天等高通道混合测量测试。

10月30日周五
10月29日周四
10月22日周四
10月21日周三