AI 迭代提速，芯片测试难以跟上节奏

AI 模型与工作负载的迭代速度已超过芯片设计、制造和测试周期，迫使芯片厂商重新思考测试策略。多 die 封装和更多测试插入点产生海量数据，且分散在不同公司和工厂之间难以共享；硅光目前已有 5 个测试插入点，面板级封装还将带来全新设备与工艺。客户还要求延长昂贵的 AI 硬件寿命，使老化与可靠性监控变得更复杂。