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Semiconductor Engineering· Synopsys·· 12 小时前AI 评分28

UCIe 互连在 2.5D 与 3D 多芯粒设计中的差异与工程考量

UCIe Connectivity for 2.5D and 3D Multi-Die Designs

AI 导读

白皮书分析了 UCIe 在 2.5D 与 3D 多芯粒设计中的互连差异:2.5D 封装的 UCIe 链路需穿过封装通道,插入损耗、串扰和速率提升会影响 PHY 与封装设计;3D 设计则凭更短的垂直连接与细间距键合,靠连接密度提升带宽,减少对高速串行化、均衡和通道训练的需求。内容还涵盖 F2B 与 F2F 拓扑对接口设计的影响,以及 3D 集成对实现、测试和可靠性的改变。

来源:Semiconductor Engineering · semiengineering.com